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ICT+Hipot测试系统 介绍

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ICT+Hipot测试系统 介绍
更新时间:2013-10-20 21:34 免费会员
  • 产品详情
  • 规格参数
  • 联系方式

    ICT+Hipot测试系统  

  1、产品进行ICT与功能测试时一次性完成。

      2、主系统在更换夹具的状况下可支持客户同类产品测试。

        4、相同产品可支持同时测试12 连板。

5、汽缸上升采用双段式;汽缸下降到底做ICT测试动作,上升段完成做Hi-Pot测试,测试完成上升到顶

6、良好的放电侦测功能,产品测试ICT前与Hi-Pot测试完成后做放电处理,并侦测是否放电OK。

7、测试方式分:ICT测试、Hi-Pot测试、整合连续测试

 

 

二、具体实现方案简介

1、       需求设备

1).测试机架;

       2).工业电脑;

       3).ICT测试系统;

       4). TOS5051A型高压测试仪。

       5). Hi-Pot测试主控制箱;