测长仪 JDY-2（上海光学仪器厂 上光新光学）

 测长仪 JDY-2（上海光学仪器厂 上光新光学）
测长仪可用于各种圆柱形、球形、平行平面等精密器具和零件的外形、内孔尺寸的直接测量和比较测量（如量块,量棒,塞规,样圈,钢球等），及内外螺纹的中径等测量，还可以使用仪器的附件进行各种特殊测定工作，是计量室必备设备和经典教学仪器之一。
直接测量：0～100mm, 比较测量：0～500mm.
读数显微镜：分划值0.001mm, 稳定性0.3～0.5μm.
主要附件：顶针架,测钩,测头测帽,螺纹测量装置,内测装置,标准环规等.